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河裾 厚男; 深谷 有喜; 林 和彦*; 橋本 美絵; 一宮 彪彦
Physica Status Solidi (C), 4(10), p.3924 - 3927, 2007/09
被引用回数:0 パーセンタイル:0.07(Physics, Atomic, Molecular & Chemical)電子による表面プラズモン励起過程は、電子エネルギー損失分光を通じて精力的に研究されてきた。一方で、表面における陽電子のエネルギー損失過程は十分には研究されていない。入射角度が十分に低い場合、陽電子は表面で全反射回折する。全反射回折は電子の場合には原理的に起こらない。本研究において、われわれはエネルギー分析型の反射高速陽電子回折を用いて幾つかの表面における陽電子エネルギー損失分光測定を行った。Si(111)-77表面において、明瞭に分離された5本のエネルギー損失ピークを観測した。そのエネルギー間隔は約10eVであり、シリコンの表面プラズモンエネルギーに一致している。エネルギー損失スペクトルは、大略ポアソン分布により近似できる。プラズモンの平均励起回数は2.6回であり、電子回折の低角度極限に対する値に一致する。このように陽電子は電子よりも効率的にエネルギーを損失することが明らかになった。さらに鏡面反射点プロファイルの裾部分が、プラズモン励起により拡がることを見いだした。
河裾 厚男; 深谷 有喜; 橋本 美絵; 一宮 彪彦
no journal, ,
この10年間余りの間、われわれは反射高速陽電子回折を用いて各種の表面系を研究してきた。反射高速陽電子回折の利点は、表面第一層における全反射現象の出現にある。すなわち、反射高速陽電子回折は電子回折やX線回折よりも表面構造の研究に適しており、多くの応用研究が考えられる。講演の前半では最近の表面相転移の研究結果であるIn/Si(111)表面について述べる。表面そのものの研究とは別に、陽電子と固体表面の相互作用には未知の点が残されている。講演の後半では、高速陽電子のエネルギー損失分光測定の結果について述べる。